Objektiv LD Epiplan 20x/0,40
Objektiv LD Epiplan 20x/0,40
Artikelnr.: 442840-9901-000(nicht mehr lieferbar)
Objektiv LD Epiplan 20x/0,40 (D=0mm mit oder D=1,5mm ohne Deckglaskappe) (a=7,2mm bei D=0mm)
Vollständige BeschreibungObjektiv mit abnehmbarer Deckglaskappe 1,5 mm. Ohne Deckglaskappe ist das Objektiv geeignet für das Arbeiten an Heizkammern und ähnlichem mit einem Eintrittsfenster von 1,5 mm Dicke. Ohne Deckglaskappe beträgt der Arbeitsabstand 9,1 mm.
Zum Abnehmen der Deckglaskappe bitte zunächst den grünen Farbring des Objektives abschrauben, der anschließend ohne die Deckglaskappe wieder aufgeschraubt werden kann.
| Vergrößerung | 20x |
| Numerische Apertur | 0.4 |
| Arbeitsabstand [mm] | 7.3 |
| Deckglasdicke [mm] | 0 |
| Gewindetyp | W0.8x1/36" |
| Immersion | Ohne Immersion |
| Sehfeld [mm] | 20 |
| Abgleichlänge [mm] | 45.00 |
| Großer Arbeitsabstand | 
|
| Korrektionsring | |
| Iris | |
| Optisches System | Infinity Color Corrected System (ICS) |
| Farbkorrektur | achromatisch |
| Biomedizinische Anwendungen | |
|---|---|
| Fluoreszenz |
|
| - Multichannel | |
| - Ultraviolett-Transmission | |
| - Infrarot-Transmission | |
| Hellfeld |
|
| DIC [Differentieller Interferenzkontrast] | |
| High Contrast DIC | |
| PlasDIC | |
| Phasenkontrast | |
| VAREL-Kontrast | |
| Hoffman Modulation Contrast | |
| Polarisationskontrast | |
| Material- (Auflicht) Anwendungen | |
| Hellfeld |
|
| Hellfeld/Dunkelfeld | |
| Auflicht-DIC | |
| High Contrast DIC | |
| DIC mit zirkular-polarisiertem Licht | |
| Totalinterferenz-Kontrast |
|
| Polarisationskontrast | |
| Optionen | |
| Definite Focus.2 | |
| Konfokale Mikroskopie |
|
| - Ultraviolet | |
| - VIS (sichtbares Licht) | |
| - NLO-IR / 2 Photon | |
| Total Internal Reflection Fluorescence | |
| Apotome | |
| Mikrodissektion | |
-
Adapter M 27x0,75 auf W 0,8 H "0"
Artikelnr.: 000000-1095-168 -
DIC-Schieber LD PN 20x/0,40 II
Artikelnr.: 426954-0000-000
Hinweis:
Alle Maße in [mm]
mech. working distance = mechanischer Arbeitsabstand
cover glass = Deckglas
object plane = Objektebene
object field = Objektfeld
illumination = Ausleuchtung
specimen accessibility = Probenzugänglichkeit
Hinweis:
Bitte beachten Sie, dass es sich hierbei um durchschnittliche Werte handelt. Auf Grund von Produktionstoleranzen kann es zu Abweichungen bis zu ca. 5% kommen.
