Objektiv EC Epiplan 10x/0,25 HD M27
Objektiv EC Epiplan 10x/0,25 HD M27
Artikelnr.: 422040-9961-000Objektiv EC Epiplan 10x/0,25 HD M27 (a=11,0mm)
Vollständige BeschreibungVergrößerung | 10x |
Numerische Apertur | 0.25 |
Arbeitsabstand [mm] | 11.0 |
Deckglasdicke [mm] | 0 |
Gewindetyp | M27x0.75 |
Immersion | Ohne Immersion |
Sehfeld [mm] | 23 |
Abgleichlänge [mm] | 45.00 |
Großer Arbeitsabstand | |
Korrektionsring | |
Iris | |
Optisches System | Infinity Color Corrected System (ICS) |
Farbkorrektur | achromatisch |
Biomedizinische Anwendungen | |
---|---|
Fluoreszenz | |
- Multichannel | |
- Ultraviolett-Transmission | |
- Infrarot-Transmission | |
Hellfeld | |
DIC [Differentieller Interferenzkontrast] | |
High Contrast DIC | |
PlasDIC | |
Phasenkontrast | |
VAREL-Kontrast | |
Hoffman Modulation Contrast | |
Polarisationskontrast | |
Material- (Auflicht) Anwendungen | |
Hellfeld | |
Hellfeld/Dunkelfeld | |
Auflicht-DIC | |
High Contrast DIC | |
DIC mit zirkular-polarisiertem Licht | |
Totalinterferenz-Kontrast | |
Polarisationskontrast | |
Optionen | |
Definite Focus.2 | |
Konfokale Mikroskopie | |
- Ultraviolet | |
- VIS (sichtbares Licht) | |
- NLO-IR / 2 Photon | |
Total Internal Reflection Fluorescence | |
Apotome | |
Mikrodissektion |
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Objektivring ACR für Objektivhülse konisch lang
Artikelnr.: 424510-0000-000Objektivring ACR für Objektivhülse konisch lang
Artikelnr.: 424510-0000-000Objektivring ACR für Objektivhülse konisch lang
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DIC-Schieber EC PN 10x/0,30 I, 20x/0,50 II, PA 20x/0,80 II
Artikelnr.: 426940-0000-000DIC-Schieber EC PN 10x/0,30 I, 20x/0,50 II, PA 20x/0,80 II
Artikelnr.: 426940-0000-000DIC-Schieber EC PN 10x/0,30 I, 20x/0,50 II, PA 20x/0,80 II
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DIC-Schieber EC EP 5x/0,13; 10x/0,2; 20x/0,4 Epi+
Artikelnr.: 426968-9100-000DIC-Schieber EC EP 5x/0,13; 10x/0,2; 20x/0,4 Epi+
Artikelnr.: 426968-9100-000DIC-Schieber EC EP 5x/0,13; 10x/0,2; 20x/0,4 Epi+
Hinweis:
Alle Maße in [mm]
mech. working distance = mechanischer Arbeitsabstand
cover glass = Deckglas
object plane = Objektebene
object field = Objektfeld
illumination = Ausleuchtung
specimen accessibility = Probenzugänglichkeit
Hinweis:
Bitte beachten Sie, dass es sich hierbei um durchschnittliche Werte handelt. Auf Grund von Produktionstoleranzen kann es zu Abweichungen bis zu ca. 5% kommen.
Enhanced Contrast Universalobjektive in der technischen Mikroskopie für die Verfahren Hellfeld, Differential-Interferenzkontrast und Polarisation. Die HD-Versionen sind zusätzlich für Dunkelfeld vorgesehen. Sie besitzen große Arbeitsabstände, die für Werkstoffuntersuchungen von besonderer Bedeutung sind.
Objektiv EC Epiplan 10x/0,25 HD M27 (a=11,0mm)